SIMS — Spectrométrie de masse à ionisation secondaire SIMS (Spectrométrie de masse à ionisation secondaire) Le procédé d analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d après l acronyme anglais signifiant Secondary Ion Mass Spectrometry consiste à… … Wikipédia en Français
GCxGC-TOF-MS — Die Massenspektrometrie ist ein Verfahren zum Messen des Masse zu Ladung Verhältnisses m/q von Teilchen. Dazu wird die zu untersuchende Substanz in die Gasphase überführt, ionisiert und die ionisierten Teilchen durch ein elektrisches Feld… … Deutsch Wikipedia
Static secondary ion mass spectrometry — Static secondary ion mass spectrometry, or static SIMS is a technique for chemical analysis including elemental composition and chemical structure of the uppermost atomic or molecular layer of a sol >Wikipedia
Spectromètre de masse à temps de vol — Figure tirée du brevet de William E. Stephens, 1952[1]. La Spectrométrie à temps de vol (TOF MS, selon l acronyme anglais Time of Flight Mass Spectrometry) est une méthode de spectrométrie de masse dans laquelle les ions sont accélérés par un … Wikipédia en Français
Spectromètres de masse à temps de vol — Spectromètre de masse à temps de vol Figure tirée du brevet de William E. Stephens, 1952.[1] La Spectrométrie à temps de vol (TOF MS, selon l acronyme anglais Time of Flight Mass Spectrometry ) est une méthode de Spectrométrie de masse dans… … Wikipédia en Français
Low-energy ion scattering — LEIS redirects here; for the Hawaiian garland see Lei (Hawaii). Low energy ion scattering spectroscopy (LEIS), sometimes referred to simply as ion scattering spectroscopy (ISS), is a surface sensitive analytical technique used to characterize the … Wikipedia
Secondary ion mass spectrometry — Infobox chemical analysis name = Secondary ion mass spectrometry caption =CAMECA IMS3f Magnetic SIMS Instrument acronym = SIMS >Wikipedia
Chemical state — Contents 1 Overview 2 Measurement and Interpretation 3 Significance 4 Closely related nomenclature … Wikipedia
Масс-спектрометрия вторичных ионов — Термин масс спектрометрия вторичных ионов Термин на английском secondary ionization mass spectrometry Синонимы Аббревиатуры МСВИ, ВИМС, SIMS Связанные термины масс спектрометр, протеомика Определение Деструктивный метод химического анализа… … Энциклопедический словарь нанотехнологий
ALH84001 — Meteorite Name= Allan Hills 84001 Image caption= Meteorite fragment ALH 84001 Image w >Wikipedia
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